日本信頼性学会2021年度第2回信頼性フォーラム 「電子部品，電子機器の故障解析とは・・・．原点に立ち返り考える」

日本信頼性学会2021年度第2回信頼性フォーラムをオンラインにて開催いたします。奮ってご参加くださいますようお願い申し上げます。

　故障物性研究会では，2017年から4回に亘り，信頼性フォーラムを行ってきました．その根底に一貫してあるのは，第１回の「製品事故を繰り返さないために」という思いです．そのためには，次世代（伝承）へ，サプライチェーンの上流や下流へ，そして業種を越えて，製品事故や故障に関する情報を伝えていくことが重要で，それらを課題として取り上げてきました．今回は，原点に立ち返り，故障解析の装置や手法で本当は何が見えているのか，それをどう捉えるのか，という点に主眼を置き，故障解析技術の基本や応用の事例を取り上げました．パネルディスカッションでは，故障解析の委託者側，受託者側，それぞれの立場からの課題を取り上げ，それらの解決策を導き，双方にとって効果が期待できる議論につながればと思います．本フォーラムによって，みなさまの故障解析観を広げることの一助になれば幸いです．

開 催 日 ：　2022年3月10日（木）　10:25～17:15
開催方法 ： オンライン開催（Microsoft Teams使用）
参 加 費 ：　一般（非会員）：6,000円，正会員・賛助会員・協賛学協会員：5,000円、
　　　　　　学生：2,500円
申込方法 ：　クレジットカードにてオンライン決済となります。
　　　　　　　●こちら●よりお手続きください。

プログラム：
10:25～10:30　参加者への連絡等　　　　　　　　　　　総合司会　遠西繁治氏（新川）
10:30～10:35　開会挨拶　　　　　　　　　　　　　　 土屋英晴氏（日本信頼性学会 副会長）
10:35～11:15　電子部品・電子機器の故障解析概要
　　　　　　　　　　　　　　　　　　　　　　　　　味岡恒夫氏（故障物性ソリューション）
11:15～12:10　SEM/EDSで出来る故障解析～依頼分析の前に～　
　　　　　　　　　　　　　　　　　　　　　　　　　　　斎藤彰氏（村田製作所）
　　　　　　　 （昼休み）
13:10～13:40　光学的手法を用いた応力・結晶欠陥評価法と電子部品，半導体デバイスへの適用
　　　　　　　　　　　　　　　　　　　　　　　　　　　杉江隆一氏（東レリサーチ）
13:40～14:20　透過X線/X線CTと超音波探傷の違いについて
　　　　　　　　　　　　　　　　　　　　　　　　　　　中川渉氏（日本バーンズ）
　　　　　　　 （休憩）
14:40～15:40　解析受託サービス各社からのプレゼン <方針・特徴・メニュー・解析事例>
　　　　　　　　　　　　　　　　　　　　　　　　　　　　　　　（各20分）
　　　　　　　　　　　　　　　　　　　　　　　　　　　高森圭氏（沖エンジニアリング）
　　　　　　　　　　　　　　　　　　　　　　　　　　　池本裕氏（クオルテック）
　　　　　　　　　　　　　　　　　　　　　　　　　　　廣岡知之氏（楠本化成ETAC）
　　　　　　　 （休憩）
15:50～17:10　パネルディスカッション
　　　　　　　　　“故障解析の外部委託：委託者と受託者で解決する故障問題”
　　　　　　　　　　　　　　　　　　　コーディネータ：佐藤博之氏（アドバンテスト）
　　　　　　　　　　　　　　　　　　　　　　パネラー：高森圭氏（沖エンジニアリング）
　　　　　　　　　　　　　　　　　　　　　　　　　　　池本裕氏（クオルテック）
　　　　　　　　　　　　　　　　　　　　　　　　　　　廣岡知之氏（楠本化成ETAC）
　　　　　　　　　　　　　　　　　　　　　　　　　　　藤田忠重氏（横河電機）
　　　　　　　　　　　　　　　　　　　　　　　　　　　安藤千春氏（コニカミノルタ）
17:10～17:15　閉会挨拶 佐藤博之氏（アドバンテスト）

資　　料 ：　学会ホームページよりダウンロードしていただくことになります。
　　　　　　　予めご了承ください。
お問合せ ： 日本信頼性学会事務局
　　　　　〒166-0003 東京都杉並区高円寺南 1-2-1 一般財団法人日本科学技術連盟内
　　　　　電話 03-5378-9853　 FAX03-5378-9842　 E-mail：reaj@juse.or.jp